SM-124 0~20mm表盤式厚度表日(ri)本(ben)TECLCOK得樂(le)
型號: SM-124
品牌:日本TECLCOK得樂
*小刻(ke)度: 0.01 mm
測量范圍: 20mm
精度: ±20um
平面(mian)度: 5um
表盤刻度: 0-50-100
測(ce)量力:3.5N以下
上測頭:φ 10平測(ce)頭
下測頭:φ 10平測頭(tou)
重量:270g
測頭(tou)參考圖片:
表(biao)盤(pan)式厚度表(biao) 別名:
表盤式厚度計、手握式厚度表、厚薄表、測厚計
表(biao)盤(pan)式厚度表(biao) 產品說明:
*小刻度有0.01
測量厚度可達(da)20mm
部分量表采用(yong)陶(tao)瓷測頭,與(yu)工作(zuo)接觸面為(wei)陶(tao)瓷,可延長使用(yong)壽(shou)命。另外,還有(you)FE(材質為加硬SK4)可供選擇。
根據測頭的形狀不同,可分為標準型和其它型,
表(biao)盤式厚度(du)表(biao) 用(yong)途:
應用廣泛,可測量紙張、頭發、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。
表盤式厚(hou)度(du)表 測頭:
標準型
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LS型
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LW型
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3A型(xing)
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FE型
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AT型
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材質(zhi):陶瓷
上測頭:??10mm平面
下測(ce)頭:??10mm平面
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材(cai)質:上測(ce)(ce)頭(tou)為鋼球,下測(ce)(ce)頭(tou)為陶瓷
上測頭:??3.2mm球(qiu)形(xing)
下測(ce)頭:??10mm平面
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材(cai)質:上、下測(ce)頭(tou)均為鋼球
上測頭:??3.2mm球形(xing)
下測頭:??3.2mm球形
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材質:加(jia)硬SK4
上測(ce)頭:??5mm平面
下(xia)測頭:??5mm平面
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材(cai)質(zhi):加硬SK4
上測頭:??10mm平面
下(xia)測頭(tou):??10mm平面
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材質:鋼(gang)加(jia)特殊鍍層
上(shang)測頭:??10mm平面
下測頭:??10mm平面
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型號
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*小(xiao)刻(ke)度
mm
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測(ce)量范(fan)圍
mm
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精度(du)
um
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平面度
um
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表盤刻(ke)度(du)
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測量力
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上測頭
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下測頭
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重量
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測頭參考圖片
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SM-124
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0.01
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20
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±20
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5
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0-50-100
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3.5N以下
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φ 10平測頭
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φ 10平測頭
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270
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標準型
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SM-124LS
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0.01
|
20
|
±20
|
ー
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0-50-100
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3.5N以(yi)下
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φ 3.2球測頭
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φ 10平測頭(tou)
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270
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LS
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SM-124LW
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0.01
|
20
|
±20
|
ー
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0-50-100
|
3.5N以下
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φ 3.2球測頭
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φ 3.2球(qiu)測頭
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270
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LW
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