首頁>
產品中心>
TECLOCK(得樂牌)>
厚度表>
SM-125LS 0~20mm表盤式厚度表日本TECLCOK得樂
SM-125LS 0~20mm表盤式厚度表日本TECLCOK得樂
SM-125LS 0~20mm表(biao)盤式厚度表(biao)日本TECLCOK得樂
型號: SM-125LS
品牌:日本TECLCOK得樂
*小刻度: 0.01 mm
測(ce)量范圍: 20mm
精(jing)度: ±20um
平面度: ーum
表盤刻(ke)度: 0-50-100
測量力:3.5N以下
上(shang)測頭:φ 3.2球測頭
下測頭:φ 10平測頭
重量:440g
測(ce)頭參(can)考(kao)圖片:
表盤式(shi)厚度表 別名:
表盤式厚度計、手握式厚度表、厚薄表、測厚計
表盤式厚度表 產(chan)品說(shuo)明(ming):
*小刻度有0.01
測量厚度(du)可(ke)達20mm
部分(fen)量表(biao)采(cai)用陶瓷測頭,與工作(zuo)接觸面為陶瓷,可延長使用壽命(ming)。另外,還有(you)FE(材質為加硬SK4)可供選擇。
根據測頭的形狀不同,可分為標準型和其它型,
表盤式(shi)厚度表 用途:
應用廣泛,可測量紙張、頭發、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。
表(biao)盤(pan)式厚度表(biao) 測頭(tou):
標準型
|
LS型(xing)
|
LW型(xing)
|
3A型
|
FE型
|
AT型
|
材質(zhi):陶瓷
上測(ce)頭:??10mm平(ping)面
下測頭(tou):??10mm平面
|
材質:上(shang)測(ce)頭為(wei)鋼(gang)球,下測(ce)頭為(wei)陶瓷
上測頭:??3.2mm球形
下測頭:??10mm平面(mian)
|
材質:上、下測(ce)頭均為鋼球
上測頭(tou):??3.2mm球形(xing)
下(xia)測(ce)頭:??3.2mm球形(xing)
|
材質:加硬SK4
上測頭:??5mm平面
下測頭:??5mm平面
|
材質(zhi):加硬SK4
上測頭:??10mm平面(mian)
下測頭:??10mm平面
|
材質:鋼加特殊鍍層
上測頭:??10mm平面
下測頭(tou):??10mm平面
|
|
|
|
|
|
|
型號(hao)
|
*小刻度
mm
|
測量范圍
mm
|
精度
um
|
平面度
um
|
表盤刻(ke)度
|
測量力
|
上測頭
|
下測頭
|
重(zhong)量(liang)
|
測頭(tou)參考圖片
|
SM-125
|
0.01
|
20
|
±20
|
5
|
0-50-100
|
3.5N以下
|
φ 10平測頭(tou)
|
φ 10平測頭
|
440
|
標(biao)準型
|
SM-125LS
|
0.01
|
20
|
±20
|
ー
|
0-50-100
|
3.5N以下(xia)
|
φ 3.2球測頭
|
φ 10平測頭
|
440
|
LS
|
SM-125LW
|
0.01
|
20
|
±20
|
ー
|
0-50-100
|
3.5N以下
|
φ 3.2球測頭
|
φ 3.2球測頭
|
440
|
LW
|